深圳市展芯科技有限公司

依托于自有的芯片失效分析实验室，展芯科技得以根据最前端的测试需求不断地研发改进探针台系统，以满足用户日新月异的测试需求。同时，芯片失效分析实验室也为展芯的探针台系统提供了理论联系实际的测试平台，芯片分析实验室用户在使用探针台系统的同时，也给我司产品提供了宝贵的改进建议。        

经过10年的发展和积累，展芯已在探针台系统的应用技术领域取得了卓越的成绩，可针对用户不同的测试需求定制解决方案，如微弱电流测试（1fA）、RF 和mmW测试（THz）、高功率测试（100A，10kV）、真空高低温测试（-196℃~800℃）、光电测试等等。        

凭借着PRC的产品，展芯赢得了半导体行业内知名科研机构和公司的信任和尊重，建立了长期的合作关系。展芯的探针台系统已在国内外的科研院所、学校和公司中获得广泛的使用，如中科院、广州五所（赛宝实验室）、北京自动化设备研究所、电子科技大学、西安电子科技大学、清华大学、北京大学、复旦大学、香港大学、香港科技大学、香港城市大学、华为、中兴、比亚迪、富士康等等。        

感谢您对展芯的关注，相信我们PRC的产品定能让您在集成电路 (IC)、电路板、光学器件、MEMS、3D TSV、LCD等先进半导体器件的精密电气测量及测试中获得精准可靠的测试数据。